TY  - JOUR

T1  - Impact ionization coefficients in 4H-SiC

JO  - IEEE T ELECTRON DEV

PY  - 2008/08/01

AU  - Loh WS

AU  - Ng BK

AU  - Ng JS

AU  - Soloviev SI

AU  - Cha HY

AU  - Sandvik PM

AU  - Johnson CM

AU  - David JPR

ED  - 

DO  - DOI: 10.1109/TED.2008.926679

VL  - 55

IS  - 8

SP  - 1984

EP  - 1990

Y2  - 2024/12/27

ER  -